上海HR-1680R 橋堆高溫反偏老化系統(tǒng)

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詳細信息

 

系統(tǒng)適用于各種封裝的橋堆、二極管、三極管、MOSFET

和可控硅等分立器件進行高溫反偏、高溫柵偏的電耐久性試

驗（HTGB/HTRB）、高溫漏電流測試（H.T.I.R）和老化篩選。

計算機全程監(jiān)測每個試驗器件的試驗參數(shù)，并且繪制出

全程HTGB/HTRB、HTIR試驗參數(shù)曲線，數(shù)據(jù)可轉(zhuǎn)換成Excel

表格供用戶保存和分析。

 

主要技術(shù)指標和性能：

系統(tǒng)特點		單溫區(qū)，16通道，1280工位，H.T.I.R監(jiān)測
符合標準		符合MIL、GJB、JEDEC、GB試驗要求
器件保護方式		快速熔斷保險絲
高溫 試驗箱	型號	ESPEC 高溫試驗箱
	內(nèi)容積	橫向風(fēng)道，內(nèi)容積：600mm*600mm*600mm
	溫度范圍	室溫～200℃
試驗 容量	試驗通道	16個試驗通道
	試驗容量	橋堆：40位/通道*16通道=640位 /   二極管：80位/通道*16通道=1280位
試驗 電源	電源種類	正、負1200V雙電源（2400V高壓）
	電源功能	數(shù)字顯示、過壓、恒流、短路保護、高可靠
驅(qū)動 檢測板	數(shù)量	16塊（相互獨立，自帶CPU）
	電壓檢測	范圍：0～2000V，精度：±1%±2LSB
	漏電流檢測	范圍：0.1µA～50mA，精度：1%±2LSB
	溫度記錄	計算機全過程監(jiān)測
	高壓保護	防高壓擊穿保護電路，在2500V高壓擊穿情況下，無擊穿和飛弧現(xiàn)象
主 控 計 算 機	主機	計算機（可選配工控機）
	顯示屏	12”彩色液晶顯示屏（可選配觸摸屏）
	軟件界面	基于Widows XP界面，使用方便
	數(shù)據(jù)記錄	全程監(jiān)測，表格（EXCEL）、曲線方式保存
	報警	H.T.I.R超限報警，時間點可查詢
老化板 老化座	種類	幾十種按標準設(shè)計的老化板供用戶選擇，PCB加工工藝特殊處理
	材質(zhì)	FR5(Tg=170℃) /   Polymide（Tg=250℃）
	耐溫	老化板長期耐受150℃/175℃高溫
	尺寸	280mm*590mm
	老化座	各種耐高溫老化座，可根據(jù)用戶要求開發(fā)定制，長期耐受175℃高溫
供電要求		AC220V單相，8KW
外形尺寸（W*D*H）		127*134*200（cm）
重量		約500Kg