北京HR-1645R高溫反偏老化系統(tǒng)

產(chǎn)品規(guī)格 :

產(chǎn)品價格 :面議

點 擊 數(shù) :25028

更多

 

詳細(xì)信息

 

系統(tǒng)適用于各種封裝的二極管、三極管、MOSFET、橋堆

和可控硅等分立器件進(jìn)行高溫反偏、高溫柵偏的電耐久性試

驗（HTGB/HTRB）、高溫漏電流測試（H.T.I.R）和老化篩選。

計算機(jī)全程監(jiān)測每個試驗器件的試驗參數(shù)，并且繪制出

全程HTGB/HTRB、HTIR試驗參數(shù)曲線，數(shù)據(jù)可轉(zhuǎn)換成Excel

表格供用戶保存和分析。

 

 

特點		雙溫區(qū)，16通道，1280工位，H.T.I.R檢測
符合標(biāo)準(zhǔn)		符合MIL、GJB、JEDEC、GB試驗要求
器件保護(hù)方式		快速熔斷保險絲
高溫試驗箱	型號	ESPEC LC-213（2臺，雙溫區(qū)）
	內(nèi)容積	豎向風(fēng)道，內(nèi)容積：450mm*450mm*450mm
	溫度范圍	室溫～200℃
試驗容量	試驗通道	8通道/溫區(qū)*2溫區(qū)
	試驗容量	80位/通道*16通道=1280位（最大）
試驗電源	電源種類	100V / 200V / 300V / 600V / 800V / 1000V / 1200V / 1500V / 2000V
	電源功能	數(shù)字顯示，過壓，欠壓、過流、短路保護(hù)；高可靠。
驅(qū)動 檢測板	數(shù)量	16塊（相互獨立，自帶CPU）
	電壓檢測	范圍：0～2000V，精度：±1%±2LSB
	漏電流檢測	范圍：0.1µA～50mA，精度：1%±2LSB
	高壓保護(hù)	防高壓擊穿保護(hù)電路，在2000V高壓擊穿情況下，無擊穿和飛弧現(xiàn)象
主 控 計 算 機(jī)	主機(jī)	計算機(jī)（可選配工控機(jī)）
	顯示屏	12”彩色液晶顯示屏（可選配觸摸屏）
	軟件界面	基于Widows XP界面，使用方便
	數(shù)據(jù)記錄	全程監(jiān)測，表格（EXCEL）、曲線方式保存
	報警	HTIR超限報警，時間點可查詢
老化板 老化座	種類	幾十種按標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的老化板供用戶選擇，PCB加工工藝特殊處理
	材質(zhì)	FR5(Tg=170℃) /   Polymide（Tg=260℃）
	耐溫	老化板長期耐受150℃/175℃高溫
	尺寸	280mm*450mm
	老化座	各種耐高溫老化座，可根據(jù)用戶要求開發(fā)定制，長期耐受175℃高溫
供電要求		AC220V單相，8KW
外形尺寸（W*D*H）		140*120*190（cm）
重量		約500Kg