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上海HR-0845R高溫反偏老化系統(tǒng)
詳細信息
系統(tǒng)適用于各種封裝的二極管、三極管、MOSFET、橋堆和可控硅等分立器件進行高溫反偏、高溫柵偏的電耐久性試驗(HTGB/HTRB)、高溫漏電流測試(H.T.I.R)和老化篩選。計算機全程監(jiān)測每個試驗器件的試驗參數(shù),并且繪制出全程HTGB/HTRB、HTIR試驗參數(shù)曲線,數(shù)據(jù)可轉(zhuǎn)換成Excel表格供用戶保存和分析。主要技術(shù)指標和性能:
系統(tǒng)特點 單溫區(qū),8通道,640位,檢測H.T.I.R 符合標準 符合MIL、GJB、JEDEC、GB試驗要求 器件保護方式 快速熔斷保險絲 高溫試驗箱 型號 ESPEC LC-213(1臺,單溫區(qū)) 內(nèi)容積 豎向風(fēng)道,內(nèi)容積:450mm*450mm*450mm 溫度范圍 室溫~200℃ 試驗容量 試驗通道 8通道 試驗容量 80位/通道*8通道=640位(最大) 試驗電源 電源種類 100V / 200V / 300V / 600V / 800V / 1000V / 1200V / 1500V / 2000V 電源功能 數(shù)字顯示,過壓,欠壓、過流、短路保護;高可靠。 驅(qū)動檢測板 數(shù)量 8塊(相互獨立,自帶CPU) 電壓檢測 范圍:0~2000V,精度:±1%±2LSB 漏電流檢測 范圍:0.1µA~50mA,精度:1%±2LSB 高壓保護 防高壓擊穿保護電路,在2000V高壓擊穿情況下,無擊穿和飛弧現(xiàn)象 主控計算機 主機 計算機(可選配工控機) 顯示屏 12”彩色液晶顯示屏(可選配觸摸屏) 軟件界面 基于Widows XP界面,使用方便 數(shù)據(jù)記錄 全程監(jiān)測,表格(EXCEL)、曲線方式保存 報警 H.T.I.R超限報警,時間點可查詢 老化板老化座 種類 幾十種按標準設(shè)計的老化板供用戶選擇,PCB加工工藝特殊處理 材質(zhì) FR5(Tg=170℃) / Polymide(Tg=260℃) 耐溫 老化板長期耐受150℃/175℃高溫 尺寸 280mm*450mm 老化座 各種耐高溫老化座,可根據(jù)用戶要求開發(fā)定制,長期耐受175℃高溫 供電要求 AC220V單相,8KW 外形尺寸(W*D*H) 120*120*190(cm) 重量 約300Kg
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