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HR-1645R高溫反偏老化系統(tǒng)
詳細(xì)信息
系統(tǒng)適用于各種封裝的二極管、三極管、MOSFET、橋堆和可控硅等分立器件進(jìn)行高溫反偏、高溫柵偏的電耐久性試驗(yàn)(HTGB/HTRB)、高溫漏電流測(cè)試(H.T.I.R)和老化篩選。計(jì)算機(jī)全程監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的試驗(yàn)參數(shù),并且繪制出全程HTGB/HTRB、HTIR試驗(yàn)參數(shù)曲線,數(shù)據(jù)可轉(zhuǎn)換成Excel表格供用戶(hù)保存和分析。
特點(diǎn) 雙溫區(qū),16通道,1280工位,H.T.I.R檢測(cè) 符合標(biāo)準(zhǔn) 符合MIL、GJB、JEDEC、GB試驗(yàn)要求 器件保護(hù)方式 快速熔斷保險(xiǎn)絲 高溫試驗(yàn)箱 型號(hào) ESPEC LC-213(2臺(tái),雙溫區(qū)) 內(nèi)容積 豎向風(fēng)道,內(nèi)容積:450mm*450mm*450mm 溫度范圍 室溫~200℃ 試驗(yàn)容量 試驗(yàn)通道 8通道/溫區(qū)*2溫區(qū) 試驗(yàn)容量 80位/通道*16通道=1280位(最大) 試驗(yàn)電源 電源種類(lèi) 100V / 200V / 300V / 600V / 800V / 1000V / 1200V / 1500V / 2000V 電源功能 數(shù)字顯示,過(guò)壓,欠壓、過(guò)流、短路保護(hù);高可靠。 驅(qū)動(dòng)檢測(cè)板 數(shù)量 16塊(相互獨(dú)立,自帶CPU) 電壓檢測(cè) 范圍:0~2000V,精度:±1%±2LSB 漏電流檢測(cè) 范圍:0.1µA~50mA,精度:1%±2LSB 高壓保護(hù) 防高壓擊穿保護(hù)電路,在2000V高壓擊穿情況下,無(wú)擊穿和飛弧現(xiàn)象 主控計(jì)算機(jī) 主機(jī) 計(jì)算機(jī)(可選配工控機(jī)) 顯示屏 12”彩色液晶顯示屏(可選配觸摸屏) 軟件界面 基于Widows XP界面,使用方便 數(shù)據(jù)記錄 全程監(jiān)測(cè),表格(EXCEL)、曲線方式保存 報(bào)警 HTIR超限報(bào)警,時(shí)間點(diǎn)可查詢(xún) 老化板老化座 種類(lèi) 幾十種按標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的老化板供用戶(hù)選擇,PCB加工工藝特殊處理 材質(zhì) FR5(Tg=170℃) / Polymide(Tg=260℃) 耐溫 老化板長(zhǎng)期耐受150℃/175℃高溫 尺寸 280mm*450mm 老化座 各種耐高溫老化座,可根據(jù)用戶(hù)要求開(kāi)發(fā)定制,長(zhǎng)期耐受175℃高溫 供電要求 AC220V單相,8KW 外形尺寸(W*D*H) 140*120*190(cm) 重量 約500Kg
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